AES-8000 AC/DC BUEEMISSJONSSPEKTROMETER
Typisk bruk
1. Samtidig bestemmelse av Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu og andre elementer i geologiske prøver; den kan også brukes til å påvise spor av edle metaller i geologiske prøver (etter separasjon og anriking);
2. Bestemmelse av flere til dusinvis av urenheter i høyrene metaller og høyrene oksider, pulverprøver som wolfram, molybden, kobolt, nikkel, tellur, vismut, indium, tantal, niob, osv.;
3. Analyse av sporstoffer og sporstoffer i uløselige pulverprøver som keramikk, glass, kullaske osv.
Et av de uunnværlige støttende analyseprogrammene for geokjemiske leteprøver
Ideell for deteksjon av urenhetskomponenter i stoffer med høy renhet
Funksjoner
Effektivt optisk bildebehandlingssystem
Ebert-Fastic optisk system og tre-linsers optisk bane er tatt i bruk for effektivt å fjerne strølys, eliminere halo og kromatisk aberrasjon, redusere bakgrunn, forbedre lysinnsamlingsevnen, god oppløsning, jevn spektrallinjekvalitet og fullt ut arve den optiske banen til en én-meter gitterspektrograf. Fordelene er.
- Kompakt optisk struktur og høy følsomhet;
- God bildekvalitet, rett fokusplan;
- Invertert linjedispersjonshastighet 0,64 nm/mm;
- Den teoretiske spektrale oppløsningen er 0,003 nm (300 nm).
Høytytende lineær array CMOS-sensor og høyhastighetsopptakssystem
- Bruk av UV-følsom CMOS-sensor, høy følsomhet, bredt dynamisk område, liten temperaturavvik; ikke behov for belegg, ingen effekt på enhetsspekteret, ingen problemer med filmaldring.
- Det høyhastighets multi-CMOS synkrone innsamlings- og databehandlingssystemet basert på FPGA-teknologi fullfører ikke bare automatisk måling av spektrallinjer for analytiske elementer, men realiserer også funksjonene for automatisk kalibrering av synkrone spektrallinjer og automatisk bakgrunnssubtraksjon.
AC- og DC-bueeksitasjonslyskilde
Det er praktisk å veksle mellom AC- og DC-buer. Avhengig av de ulike prøvene som skal testes, er det gunstig å velge riktig eksitasjonsmodus for å forbedre analysen og testresultatene. For ikke-ledende prøver, velg AC-modus, og for ledende prøver, velg DC-modus.
Automatisk elektrodejustering
De øvre og nedre elektrodene flyttes automatisk til den angitte posisjonen i henhold til programvareparameterinnstillingene, og etter at eksitasjonen er fullført, fjernes og erstattes elektrodene, noe som er enkelt å betjene og har høy justeringsnøyaktighet.
Praktisk visningsvindu
Den patenterte elektrodeavbildningsprojeksjonsteknologien viser hele eksitasjonsprosessen i observasjonsvinduet foran instrumentet, noe som er praktisk for brukere å observere eksitasjonen av prøven i eksitasjonskammeret, og bidrar til å forstå egenskapene og eksitasjonsatferden til prøven.
Kraftig analyseprogramvare
- Automatisk kalibrering av spektrallinjer i sanntid for å eliminere påvirkningen av instrumentdrift;
- Bakgrunnseffekten trekkes automatisk fra for å redusere forstyrrelser fra menneskelige faktorer;
- Reduser påvirkningen av spektral interferens gjennom spektrallinjeseparasjonsalgoritmen;
- Automatisk bytte av multispektrumbestemmelse for å utvide spekteret av deteksjonsinnhold;
- Kombinasjonen av to tilpasningsmetoder forbedrer nøyaktigheten av prøveanalysen;
- Rikelig med spektrallinjeinformasjon, som utvider analysefeltets anvendelse;
- Spesiell analyseprogramvare, egnet for ulike krav til prøvetesting.
- Praktisk etterbehandlingsfunksjon for data forkorter den eksperimentelle prosessen og gjør databehandlingen mer fleksibel
Sikkerhetsbeskyttelse
- Overvåking av kjølende sirkulerende vannstrøm på elektrodeklipsen kan unngå høytemperaturforbrenning på elektrodeklipsen;
- Aktiver sikkerhetslåsen på kammerdøren for å beskytte operatørenes sikkerhet.
Parametere
| Optisk baneform | Vertikalt symmetrisk Ebert-Fastic-type | Nåværende rekkevidde | 2~20A (vekselstrøm) 2~15A (likestrøm) |
| Plane gitterlinjer | 2400 stykker/mm | Eksitasjonslyskilde | AC/DC-bue |
| Optisk banebrennvidde | 600 mm | Vekt | Omtrent 180 kg |
| Teoretisk spektrum | 0,003 nm (300 nm) | Dimensjoner (mm) | 1500 (L) × 820 (B) × 650 (H) |
| Oppløsning | 0,64 nm/mm (første klasse) | Konstant temperatur i spektroskopisk kammer | 35°C ± 0,1°C |
| Fallende linjespredningsforhold | Synkront høyhastighetsopptakssystem basert på FPGA-teknologi for høyytelses CMOS-sensor | Miljøforhold | Romtemperatur 15 °C ~ 30 °C Relativ fuktighet <80 % |
