UV-2200 Dobbeltstråle Uvvis spektrofotometer
Egenskaper
- Forskningsgrad duble beam, duble mnchrmatr UV/VIS spektrftmeter.
- Full PC cntrl måling med kraftig programvarefunksjon og enkel peratin.
- Superlw strølys, direkte determinatin f prøve med høy konsentrasjon, uten behov for fortynning.
- Seks-trinns variabel spektral båndbredde: 0,1 nm, 0,2 nm, 0,5 nm, 1,0 nm, 2,0 nm,
- Spektrumskanning kan gjøres ved ethvert bølgelengdeområde i 190~1100nm, med minimumsprøveintervall f 0,02nm.
- Rike data som behandler funksjoner, slik som spektrum cnversin, superpsitin, derivatin,
- peak-plukking, kurve mmthing etc.
- Multi-bølgelengde determinatin i ftmetrisk mde.Brukerdefinert aritmetikk t de målte dataene kan lages og strenges.
- Varius metoder fra kalibreringskurveetablering i kvantitativ måling mde,
- slik som enkelbølgelengdemetode, dobbelbølgelengdemetode, trippelbølgelengdemetode, brukerdefinerte metoder osv. Brukerdefinerte metoder kan lagres ved senere bruk.
- Fleksibel parameterinnstilling i kinetikkmåling mde t perfrm tidsskanning ved en fast bølgelengde, med samme data som behandler funksjoner for spektrumskanning.
- Innebygd DNA/Prtein mdule fr direkte DNA/Prtein cncentratin måling.
- Bredt prøverom, t tilpass cellestørrelse fra 5 mm t 100 mm.
Spesifikasjoner
Skriv din melding her og send den til oss
